按键寿命试验
按键寿命试验目的：
1.制定规范的操作指引，提供试验人员进行按鍵寿命试验
2.模拟用户日常使用电话的情形，试验在不同部位的按鍵寿命情況
按键寿命试验范围：
适用于所有电话机成品(除客户特殊要求外)以及物料
参考文件：
WQA9151-- Reliability Test Items for North American Vtech and AT&T Brand Products.
WQA9152-- Reliability Test Items for Vtech Europe Products.
定义：无
责任：
试验申请者提供试验功能正常的样品，并填写试验申请单
实验室负责人负责完成所有的可靠性测试，并以E-Mail形式将试验结果通知Project Leader和申请者，试验完毕后发出的正式的报告，并将样品退还申请人
对于Failure的项目，实验室负责人要在當天内通知相关负责人员，并协助分析Fail的原因
相关部门在必要时提供改善行动，并且送改善后的Sample到实验室，重做测试，以确认改善行动是否有效
程序：
冲头的调校及安装(按鍵寿命测试)
逐一调校冲头上的弹簧行程，用弹力计测量,使之符合按压距离 3.0±0.2mm时压力为450~600g
将调校好的冲头正确地安装在冲压机上
做按鍵寿命试验，VTECH标准要求如下：
机械寿命次数：试验过程中需每一万次停下来检查一次，如有问题需详细记录
试验要求：
试验中和试验后按鍵功能正常
试验中和试验后按鍵有任何的机械损坏都是不可以接受的
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