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手机可靠性测试-结构耐久性测试条件

手机可靠性测试常规测试条件

结构耐久测试    Mechanical Endurance Test)                      

样品标准数量:8 台。                                                 

测试周期:7 天。

测试目的:各结构件寿命测试。

 

 

 

 

 

1.按键测试(Keypad Test)

² 测试环境:室温(20~25° C);4台手机;手机设置成关机状态。

² 测试方法:导航键及其他任意键进行10万次按压按键测试。

² 试验标准:手机按键弹性及功能正常。

2.侧键测试(Side Key Test)

² 测试环境:室温(20~25° C);4台手机;手机设置成关机状态;5万次按压。

² 试验标准:手机按键弹性及功能正常。

3.翻盖测试(Flip Life Test)

² 测试环境:室温(20~25° C);4台手机;手机设置成开机状态;10万次开合翻盖测试。

² 试验标准:6万次后,手机外观,结构,及功能正常。

4.滑盖测试(Slide Life Test)

² 测试环境:室温(20~25° C);4台手机;手机设置成开机状态;8万次滑盖测试。

² 试验标准:6万次后,手机外观,结构,及功能正常,滑盖不能有松动。

5. 重复跌落测试(Micro-Drop Test)

² 测试环境:室温(20~25° C);7cm高度 ,20mmPVC板;4台手机;开机状态;6000次。

² 测试标准:手机各项功能正常,外壳无变形、破裂、掉漆,显示屏无破碎,晃动无异响。

6. 充电器插拔测试(Charger Test)

² 测试环境:室温(20~25° C);4台手机。

² 试验方法:将充电器接上电源,连接手机充电接口,等待手机至充电界面显示正常后,拔除充电插头。在开机不插卡状态下插拔充电3000次。

² 检验标准:I/O接口无损坏,焊盘无脱落,充电功能正常。无异常手感。

7.笔插拔测试(Stylus Test)

² 测试环境:室温(20~25° C);4台手机;开机状态;2万次。

² 检验标准:手机笔输入功能正常,插入拔出结构功能、外壳及笔均正常。

8.触摸屏点击试验 (Point Activation Life Test)

² 试验条件:触摸屏测试仪,直径为0.8mm的塑料手写笔或随机附带的手写笔

² 试验方法:2台手机;将手机设置为开机状态,点击同一位置250,000次,点击力度为250g;点击速度:2次/秒;

² 检验标准:不应出现电性能不良现象;表面不应有损伤

9.触摸屏划线试验  (Lineation Life Test)                                            

² 试验条件:触摸屏测试仪,直径为0.8mm的塑料手写笔或随机附带的手写笔

² 试验方法:2台手机;将手机设置为关机状态,在同一位置划线至少100,000次,力度为250g,滑行速度:60mm/秒

² 检验标准:不应出现电性能不良现象;表面不应有损伤

10.电池/电池盖拆装测试(Battery/Battery Cover Test)

² 测试环境:室温(20~25°C);4台手机;将电池/电池盖反复拆装1000次。

² 检验标准:手机及电池卡扣功能正常无变形,电池触片、电池连接器应无下陷、变形及磨损的现象,外观无异常。

11. SIM Card 拆装测试(SIM Card Test)

² 测试环境:室温(20~25°C);4台手机;SIM卡插上取下反复500次。

² 检验标准:SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常,手机读卡功能使用正常。

12. 耳机插拔测试(Headset Test)

² 测试环境:室温;4台手机;开机状态;耳机插入耳机插孔再拔出,3000次。

² 检验标准:实验后检查耳机插座无焊接故障,耳机插头无损伤,使用耳机通话接收与送话无杂音(通话过程中转动耳机插头),耳机插入手机耳机插孔时不会松动(可以承受得住手机本身的重量)。

13.导线连接强度试验(Cable Pulling Endurance Test)                

² 测试环境:室温(20~25° C);

² 实验方法:选取靠近耳塞的一段导线,将其两端固定在实验机上,用20N±2N的力度持续拉伸6秒,循环100次。

² 检验标准:导线功能正常,被覆外皮不破裂,变形。

14.导线折弯强度试验(Cable Bending Endurance Test)

² 测试环境:室温(20~25° C);

² 实验方法:分别选取靠近耳塞和靠近插头的一段导线,将导线的两端固定在实验机上,做0mm~25mm折弯实验3000次。

² 检验标准:导线功能正常,被覆外皮不破裂,变形。

15.导线摆动疲劳试验(Cable Swing Endurance Test)                             

² 测试环境:室温(20~25° C);

² 实验方法:分别将耳机和插头固定在实验机上,用1N的力, 以90°~120°的角度反复摆动耳机末端3000次。

² 检验标准:导线功能正常,被覆外皮不破裂。


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