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手机特殊条件测试可靠性测试

手机特殊条件测试


1. 低温跌落试验(Low temperature Drop Test)

² 测试环境:-20°C4台手机;开机状态。

² 试验方法:将手机进行电性能参数测试后处于开机状态放置在-20° C的低温试验箱内1小时后取出,进行1.2米的6个面跌落,2个循环,要求3分钟内完成跌落,方法同常温跌落。

² 检验标准:手机外观,结构,功能和电性能参数符合要求。

2. 扭曲测试(Twist Test)

² 测试环境:室温;4台;开机状态;0.08倍手机厚度N·m力矩扭曲手机1000次。

² 检验标准:手机没有变形,外观无异常,各项功能正常。

3. 软压测试(Squeeze Test)                                               

² 测试环境:室温(20~25°C);4台;开机状态;25Kg力反复挤压手机10000次

² 检验标准:手机没有变形,外观无异常,各项功能正常。

4. 撞击测试(impact Test)

² 测试环境:室温(20~25° C);4台手机;0.2J的功率,打击镜片四角及中心各式各1 次。

检验标准:手机镜盖无变形,无裂缝,无破损(允许有白点), LCD功能正常。



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